秦泰盛AOI設(shè)備智能化：點檢、追溯、報錯一應(yīng)俱全，瑕疵無所遁形！

秦泰盛卷對卷AOI（Automated Optical Inspection，自動光學檢測）設(shè)備是一款專為卷料檢測設(shè)計的高效、精準的自動化檢測設(shè)備。以下是對該設(shè)備的詳細介紹：

★設(shè)備核心特點

1. 有效檢測范圍

   - 該設(shè)備特別適用于卷料檢測，有效測試寬度可達500mm，能夠滿足大部分卷料產(chǎn)品的檢測需求。

2. 軸定位精度

   - 設(shè)備配備了先進的送料和收料裝置，這些裝置具有糾偏功能，能夠確保卷料在傳輸過程中的穩(wěn)定性和準確性。

3. 設(shè)備加工產(chǎn)能

   - 設(shè)備的檢測速度極快，產(chǎn)能高達≥5m/min，大大提高了生產(chǎn)效率。

4. 軟件操作

   - 設(shè)備配備了簡潔易用的軟件系統(tǒng)，用戶能夠輕松上手。單個模板的制作時間小于20分鐘，極大地節(jié)省了操作時間。

★設(shè)備功能優(yōu)勢

1. 點檢功能

   - 設(shè)備支持定時點檢，能夠定期對設(shè)備進行自動檢測，確保設(shè)備的穩(wěn)定運行。

2. 批次追溯

   - 通過批次追溯功能，用戶可以輕松追蹤到每一批次產(chǎn)品的生產(chǎn)情況，提高產(chǎn)品質(zhì)量控制水平。

3. 定點報錯

   - 當設(shè)備檢測到不良品時，會通過指示燈提示報錯點的位置，幫助用戶快速定位問題。

4. 瑕疵圖像保存與上傳

   - AOI檢測到的瑕疵圖像會被自動保存，并附帶批次信息。這些數(shù)據(jù)可以上傳至MES（制造執(zhí)行系統(tǒng)），實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享和智能管理。

★不良點檢測能力

1. 芯片斷裂

   - 設(shè)備能夠精準檢測芯片斷裂的情況，確保產(chǎn)品質(zhì)量。

2. 芯片斷開

   - 無論是芯片之間的連接斷開還是芯片內(nèi)部的斷開，設(shè)備都能準確識別。

3. 芯片異物

   - 對于芯片表面或內(nèi)部的異物，設(shè)備具有高度的檢測靈敏度。

4. 芯片沙眼

   - 芯片表面的微小瑕疵，如沙眼等，也能被設(shè)備有效檢測出來。

5. 芯片油筆印

   - 設(shè)備能夠識別芯片上的油筆印等污染痕跡，確保產(chǎn)品的清潔度。

綜上所述，秦泰盛卷對卷AOI設(shè)備憑借其高效、精準的檢測能力和豐富的功能優(yōu)勢，成為卷料檢測領(lǐng)域的佼佼者。無論是從產(chǎn)能、精度還是操作便捷性來看，該設(shè)備都具備極高的性價比，是卷料生產(chǎn)企業(yè)的理想選擇。